【CIOE2017】光纤高度，你还骗我多久？ --维勘科技最新3D测量技术诞生

　　ICCSZ讯 2017年是国内光纤连接器端面3D全检的元年。这一年包括华为、中兴在内的众多企业开始要求下游的供应商在生产光纤连接器时端面3D全检。光纤端面3D干涉仪具备测量精度高、速度快、非接触等优点，被越来越多的厂家重视，成为检验光纤连接器生产品质的重要手段。但是3D干涉仪精确测量的前提条件被很多人忽视了。

　　干涉技术在本质上存在相位不确定问题，导致原理上将有一系列的光纤高度值与获取的测量信号对应，或者讲，同样的测量信号对应于多个可能的光纤高度值。其特点是这一系列的高度值属于一个等差数列，相差所用波长的一半的整数倍。假设使用波长为640nm，如果真实纤高限定在±160nm区间内，则测量结果具有唯一性;如果真实纤高限定在±320nm区间内，则测量结果有2个，依此类推，真实纤高越大，测量结果就越多。

　　3D指标中最难测量的就是光纤高度，光纤高度测量的难点在哪里呢?

　　3D指标中光纤高度是以纳米为单位的，温度、湿度、大气压强的变动都会影响光纤高度。连接器的生产工艺从固化、研磨到3D检测只需要10分钟时间，虽然研磨后测量纤高是合格的，但是当静置24小时之后重新测量，会发现原来的合格品中有一部分光纤高度变化量超过100nm，导致纤高超出测量范围。此时，传统的光纤端面3D干涉仪受测量范围的限制，无法给出准确的纤高测量结果，甚至会把不合格品误判为合格品。

　　同一个连接器用不同方法测量，测量结果相差悬殊，究竟哪个测量结果是正确的呢?

　　在维勘科技公司创始人汪博士的带领下，我们来到了浙江大学光电学院现代光学仪器国家重点实验室，用物理接触式测试仪对这个连接器进行了测量。

　　台阶仪测量结果：424nm;传统干涉仪测量结果：83nm;增强干涉仪测量结果：400nm 注：台阶仪测量为最高点数值，3D干涉仪测量为平均数值。.

　　经过不断的优化与验证，杭州维勘科技股份有限公司最新研发的增强型光纤端面3D干涉仪完美解决了超高超低纤高测量的难题，测量范围已经扩大到了|7000nm|，更可贵的是测量速度仅为0.7秒。该产品已通过国家权威计量部门中国计量科学研究院的计量认证。

　　结论：

　　1、光纤连接器纤高超高超低现象还是很普遍的。

　　2、传统的端面3D干涉仪无法测量超高超低纤高。

　　3、在现有生产工艺无法有效控制纤高的情况下，只有增强干涉仪纤高测量范围才能保证光纤连接器的品质。

　　新型干涉仪在第十六届讯石光纤通讯市场暨技术专题研讨会上隆重亮相，同时将在于第19届中国国际光电博览会，我们的展位在6号馆6065、6066、6067展位，欢迎各位朋友莅临参观指导。

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