探索高密度测量新边界
在今天半导体工艺不断迭代与新能源迅猛发展的时代背景下,测试设备的精度与效率已成为推动产业发展与突破的关键性因素。联讯仪器PXIe SMU 12通道精密源表模块全新升级,以1μV/1pA极小分辨率与1MS/s采样率重新划定了高密度集成与高动态响应场景下的测试极限,为光通信、半导体行业升级注入了强劲的创新动能。
性能升级
为何它让行业沸腾?
分辨率高达1μV/1pA
电压和电流的测量分辨率分别高达1μV和1pA,能够精确捕捉nA级漏电流、超低功耗器件的“呼吸级”信号波动。
12通道独立/同步控制
支持多通道并行测试,可同时完成多颗器件或芯片的IV特性扫描,大幅提升测试效率!
1MS/s高速测量
12通道均可支持最高1MS/s采样率,瞬态信号无遗漏,毫秒级响应精准记录。
10V/50mA宽动态覆盖
从微瓦级物联网芯片到高密度集成电路,一卡满足多样化电压电流测试场景,告别设备频繁切换!
直流IV输出能力
模块化灵活扩展
基于PXIe平台,可与多种类型、多型号PXIe板卡无缝集成,构建全自动化测试系统。多张板卡堆叠使用可搭建上百通道源表测试系统。
全栈自动化支持
采用标准SCPI进行控制,支持C#、Python、C/C++、LabVIEW等编程语言控制,无缝融入现有测试平台。
应用场景
谁将因它而蜕变?
硅光晶圆多探针同步测试
硅光晶圆测试:破解高集成芯片的暗电流难题
在硅光芯片制造中,nA级暗电流的精准测量直接决定器件性能与良率。
S2014C凭借1pA分辨率,可稳定捕捉超低暗电流信号,搭配12通道并行架构,支持晶圆级多探针同步测试,实现硅光器件漏电流、响应度等参数的全覆盖分析,为800G光模块、激光雷达芯片提供可靠性保障!
电池研发与质检:从材料到Pack的全周期赋能
新能源电池的充放电曲线、循环寿命等关键指标依赖高精度SMU模块。
1MS/s采样率可实时捕获电池极化、内阻瞬变等微观现象。
多通道实现电芯模组自放电测试,大幅缩短BMS验证周期。
多通道实现电芯模组自放电测试
结语
S2014C以高精度与微弱信号测试为核心优势,能够精准捕捉毫伏级甚至微伏级的信号变化,为科研与工业应用提供可靠的数据支持。无论是复杂的测试场景还是严苛的测量需求,它都能以卓越的性能和稳定性,满足多样化测试需求。
新闻来源:讯石光通讯网