昊衡科技-OLI用于光器件微裂纹检测

  ICC讯 OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗， 进而判断此测量范围内链路的性能。

图1.OLI低成本光学链路诊断仪

  本次测试使用了探测深度为-90dB的OLI光纤微裂纹检测仪。图2为待光测器件，该器件为MPO接头，器件内部有微裂纹如图3所示，漏光位置为裂纹点。

图2.待测光器件

图3.光器件内部裂纹

图4.OLI测试结果

  将该器件接入OLI光纤微裂纹检测仪进行测试，测试结果如图4所示。本次测试检测出光器件MPO端面对接处的反射、光器件内部微裂纹和其余光链路。OLl光纤微裂纹检测仪的高精度探测能力，可以实现对于微小裂纹的高精度检测和定位，为光学器件的生产和检测提供了有效保障。