光电九月,绽放科研之光--武汉普赛斯电子携高速400G测试解决方案参展CIOE 2020

讯石光通讯网 2020/8/6 16:59:11

  普赛斯展位号:4号馆 通信系统设备馆4A25

  参展时间:2020年9月9-11日

  参展地点:深圳会展中心(宝安新展馆)

  专业光电测试解决方案供应商---武汉普赛斯电子将出席2020年9月9日-11日第22届中国国际光电博览会。届时,武汉普赛斯电子技术有限公司将携全系列光芯片、光组件、光器件、光模块测试设备与最新技术方案亮相本届光博会。普赛斯电子致力于求精、创新的企业工匠精神,让光电企业的制造与测试更高效。

  良工锻炼凡几年,铸得宝剑名龙泉。在今年的光博会上,武汉普赛斯电子将现场展出行业内领先的光通信测试解决方案,包括COC老化监测与测试系统、BAR TESTER、CHIP TESTER、全新8路ED收发400G高速误码仪、SFP模块老化、LD集成式老化系统等,武汉普赛斯全体员工诚邀广大客户朋友莅临展会现场进行交流指导。

  BAR TESTER

  CHIP TESTER

  400G 高速误码仪

  SFP模块老化系统


新闻来源:普赛斯

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