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EXFO推出新型无源元件测试系统

摘要:EXFO Inc.(NSSDAQ:EXFO)(TSX:EXF)已经发布了其声称的最快的元件测试系统,用于一系列无源元件(如光子集成电路)的插入损耗(IL)和回损(RL)测量。 CTP10组件测试平台结合了EXFO在2017年9月收购测试和测量仪器开发商Yenista Optics的技术。 EXFO表示,新的CTP10平台可供研究人员用于表征元件,或用于大批量生产的自动化模式。

  ICCSZ讯(编译:Vicki)EXFO Inc.(NSSDAQ:EXFO)(TSX:EXF)已经发布了其声称的最快的元件测试系统,用于一系列无源元件(如光子集成电路)的插入损耗(IL)和回损(RL)测量。 CTP10组件测试平台结合了EXFO在2017年9月收购测试和测量仪器开发商Yenista Optics的技术。 EXFO表示,新的CTP10平台可供研究人员用于表征元件,或用于大批量生产的自动化模式。

  由数百个无源器件组成的光子集成电路(PIC)以及降低网络设备成本的需求日益增长,这促成了无源器件制造商需要减少测试时间,同时保持准确性和可靠性。 EXFO表示,CTP10组件测试平台有能力测量高达1000 Nmp的单次扫描IL和RL,以应对这些挑战。

  EXFO测试和测量副总裁StéphaneChabot表示:“当EXFO收购Yenista时,其目标是利用他们的专业技术为光通信行业带来一些最具创新性的测试解决方案。EXFO的CTP10为研发和制造团队提供光子集成电路和下一代无源光网络组件所需的灵活性,准确性和速度,以满足客户要求测试数千个组件的需求。”

  今年早些时候,EXFO发布了SkyRAN,这是一款用于光纤无线前端网络的远程访问测试和监测系统,例如为5G移动设备设计的远程访问测试和监测系统。

内容来自:讯石光通讯咨询网
本文地址:http://www.iccsz.com//Site/CN/News/2018/03/15/20180315022227479400.htm 转载请保留文章出处
关键字: EXFO
文章标题:EXFO推出新型无源元件测试系统
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